文献
J-GLOBAL ID:201502235697449236
整理番号:15A0397105
InGaN/GaN構造からのトレンチ欠陥とVピットの除去
Elimination of trench defects and V-pits from InGaN/GaN structures
著者 (5件):
SMALC-KOZIOROWSKA Julita
(Inst. of High Pressure Physics, Polish Acad. of Sci., Sokolowska 29/37, 01-142 Warsaw, Poland and TopGaN Ltd. ...)
,
GRZANKA Ewa
(Inst. of High Pressure Physics, Polish Acad. of Sci., Sokolowska 29/37, 01-142 Warsaw, Poland and TopGaN Ltd. ...)
,
CZERNECKI Robert
(Inst. of High Pressure Physics, Polish Acad. of Sci., Sokolowska 29/37, 01-142 Warsaw, Poland and TopGaN Ltd. ...)
,
SCHIAVON Dario
(Inst. of High Pressure Physics, Polish Acad. of Sci., Sokolowska 29/37, 01-142 Warsaw, Poland and TopGaN Ltd. ...)
,
LESZCZYNSKI Mike
(Inst. of High Pressure Physics, Polish Acad. of Sci., Sokolowska 29/37, 01-142 Warsaw, Poland and TopGaN Ltd. ...)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
106
号:
10
ページ:
101905-101905-4
発行年:
2015年03月09日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)