文献
J-GLOBAL ID:201502240451629360
整理番号:15A0684611
55nm CMOSプロセス下におけるバイパスウインドウをもつ高速較正電流ステアリングDAC
A Fast Calibration Current Steering DAC with Bypass Window Under 55nm CMOS Process
著者 (5件):
WU Kejun
(Univ. Electronic Sci. and Technol., CHN)
,
HAN Junming
(Univ. Electronic Sci. and Technol., CHN)
,
WU Shuangyi
(Univ. Electronic Sci. and Technol., CHN)
,
LIU Yang
(Univ. Electronic Sci. and Technol., CHN)
,
YU Qi
(Univ. Electronic Sci. and Technol., CHN)
資料名:
Nanoscience and Nanotechnology Letters
(Nanoscience and Nanotechnology Letters)
巻:
7
号:
4
ページ:
369-374
発行年:
2015年04月
JST資料番号:
W2373A
ISSN:
1941-4900
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)