文献
J-GLOBAL ID:201502242046496500
整理番号:15A0305349
サブ50nm分解能の収差補正した1.2MV冷電界放出透過型電子顕微鏡
Aberration corrected 1.2-MV cold field-emission transmission electron microscope with a sub-50-pm resolution
著者 (11件):
AKASHI Tetsuya
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
,
TAKAHASHI Yoshio
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
,
TANIGAKI Toshiaki
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
,
SHIMAKURA Tomokazu
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
,
KAWASAKI Takeshi
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
,
FURUTSU Tadao
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
,
SHINADA Hiroyuki
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
,
MUELLER Heiko
(Corrected Electron Optical Systems GmbH, Englerstr. 28, D-69126 Heidelberg, DEU)
,
HAIDER Maximilian
(Corrected Electron Optical Systems GmbH, Englerstr. 28, D-69126 Heidelberg, DEU)
,
OSAKABE Nobuyuki
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
,
TONOMURA Akira
(Central Res. Lab., Hitachi, Ltd., Hatoyama 350-0395, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
106
号:
7
ページ:
074101-074101-4
発行年:
2015年02月16日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)