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文献
J-GLOBAL ID:201502244955690767   整理番号:15A0652995

原子間力顕微鏡/質量分析プラットフォームを併用し,共登録されたトポグラフィー,バンド励起ナノ力学及び質量分析イメージング

Co-registered Topographical, Band Excitation Nanomechanical, and Mass Spectral Imaging Using a Combined Atomic Force Microscopy/Mass Spectrometry Platform
著者 (8件):
OVCHINNIKOVA Olga S.
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
TAI Tamin
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
BOCHAROVA Vera
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
OKATAN Mahmut Baris
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
BELIANINOV Alex
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
KERTESZ Vilmos
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
JESSE Stephen
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
VAN BERKEL Gary J.
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)

資料名:
ACS Nano  (ACS Nano)

巻:号:ページ: 4260-4269  発行年: 2015年04月 
JST資料番号: W2326A  ISSN: 1936-0851  CODEN: ANCAC3  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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