文献
J-GLOBAL ID:201502244955690767
整理番号:15A0652995
原子間力顕微鏡/質量分析プラットフォームを併用し,共登録されたトポグラフィー,バンド励起ナノ力学及び質量分析イメージング
Co-registered Topographical, Band Excitation Nanomechanical, and Mass Spectral Imaging Using a Combined Atomic Force Microscopy/Mass Spectrometry Platform
著者 (8件):
OVCHINNIKOVA Olga S.
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
TAI Tamin
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
BOCHAROVA Vera
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
OKATAN Mahmut Baris
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
BELIANINOV Alex
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
KERTESZ Vilmos
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
JESSE Stephen
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
VAN BERKEL Gary J.
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
資料名:
ACS Nano
(ACS Nano)
巻:
9
号:
4
ページ:
4260-4269
発行年:
2015年04月
JST資料番号:
W2326A
ISSN:
1936-0851
CODEN:
ANCAC3
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)