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文献
J-GLOBAL ID：201502250799977082
整理番号：15A0431617
原子厚さのプラズモン的ナノ共振器を使用した2D単層半導体における形態変化の監視
Monitoring Morphological Changes in 2D Monolayer Semiconductors Using Atom-Thick Plasmonic Nanocavities
SIGLE Daniel O.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
MERTENS Jan
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
HERRMANN Lars O.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
BOWMAN Richard W.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
ITHURRIA Sandrine
(Sorbonnes Univ. UPMC Paris VI, Paris, FRA)
,
DUBERTRET Benoit
(Sorbonnes Univ. UPMC Paris VI, Paris, FRA)
,
SHI Yumeng
(Singapore Univ. Technol. and Design, Singapore, SGP)
,
YANG Hui Ying
(Singapore Univ. Technol. and Design, Singapore, SGP)
,
TSERKEZIS Christos
(CSIC, Donostia-San Sebastian, ESP)
,
AIZPURUA Javier
(CSIC, Donostia-San Sebastian, ESP)
,
BAUMBERG Jeremy J.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
資料名：
ACS Nano
(ACS Nano)
巻： 9 号： 1 ページ： 825-830 発行年： 2015年01月
JST資料番号： W2326A ISSN： 1936-0851 CODEN： ANCAC3 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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