文献
J-GLOBAL ID:201502250799977082
整理番号:15A0431617
原子厚さのプラズモン的ナノ共振器を使用した2D単層半導体における形態変化の監視
Monitoring Morphological Changes in 2D Monolayer Semiconductors Using Atom-Thick Plasmonic Nanocavities
著者 (11件):
SIGLE Daniel O.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
MERTENS Jan
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
HERRMANN Lars O.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
BOWMAN Richard W.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
,
ITHURRIA Sandrine
(Sorbonnes Univ. UPMC Paris VI, Paris, FRA)
,
DUBERTRET Benoit
(Sorbonnes Univ. UPMC Paris VI, Paris, FRA)
,
SHI Yumeng
(Singapore Univ. Technol. and Design, Singapore, SGP)
,
YANG Hui Ying
(Singapore Univ. Technol. and Design, Singapore, SGP)
,
TSERKEZIS Christos
(CSIC, Donostia-San Sebastian, ESP)
,
AIZPURUA Javier
(CSIC, Donostia-San Sebastian, ESP)
,
BAUMBERG Jeremy J.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
資料名:
ACS Nano
(ACS Nano)
巻:
9
号:
1
ページ:
825-830
発行年:
2015年01月
JST資料番号:
W2326A
ISSN:
1936-0851
CODEN:
ANCAC3
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)