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文献
J-GLOBAL ID：201502252143974411
整理番号：15A0207613
高空間分解能の表面プラズモン顕微鏡による細胞-電極分裂ギャップ距離の無標識測定
Label-Free Measurement of Cell-Electrode Cleft Gap Distance with High Spatial Resolution Surface Plasmon Microscopy
TOMA Koji
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
TOMA Koji
(Muroran Inst. of Technol., Hokkaido, JPN)
,
KANO Hiroshi
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
,
OFFENHAEUSSER Andreas
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
資料名：
ACS Nano
(ACS Nano)
巻： 8 号： 12 ページ： 12612-12619 発行年： 2014年12月
JST資料番号： W2326A ISSN： 1936-0851 CODEN： ANCAC3 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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