文献
J-GLOBAL ID:201502254831561956
整理番号:15A0199532
α粒子追跡と放射率比較による検出技術
Detection Technique With Alpha-Tracking and Emissivity Comparison
著者 (5件):
MORI Hiroko
(Fujitsu Semiconductor Ltd. Akiruno, Tokyo, JPN)
,
UEMURA Taiki
(Fujitsu Semiconductor Ltd. Akiruno, Tokyo, JPN)
,
MATSUYAMA Hideya
(Fujitsu Semiconductor Ltd. Akiruno, Tokyo, JPN)
,
YAMAZAKI Takashi
(Fujitsu Lab. Ltd. Atsugi, Kanagawa, JPN)
,
SOEDA Takeshi
(Fujitsu Lab. Ltd. Atsugi, Kanagawa, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
61
号:
6,Pt.1
ページ:
3438-3442
発行年:
2014年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)