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文献
J-GLOBAL ID:201502255098601896   整理番号:15A0336495

Engelmaierモデルにおける滞留時間と平均周期的温度パラメータの評価

An evaluation of dwell time and mean cyclic temperature parameters in the Engelmaier model
著者 (3件):
GEORGE Elviz
(Center for Advanced Life Cycle Engineering (CALCE), Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA)
OSTERMAN Michael
(Center for Advanced Life Cycle Engineering (CALCE), Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA)
PECHT Michael
(Center for Advanced Life Cycle Engineering (CALCE), Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA)

資料名:
Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)

巻: 55  号: 3-4  ページ: 582-587  発行年: 2015年02月 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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