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文献
J-GLOBAL ID：201502255098601896
整理番号：15A0336495
Engelmaierモデルにおける滞留時間と平均周期的温度パラメータの評価
An evaluation of dwell time and mean cyclic temperature parameters in the Engelmaier model
GEORGE Elviz
(Center for Advanced Life Cycle Engineering (CALCE), Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA)
,
OSTERMAN Michael
(Center for Advanced Life Cycle Engineering (CALCE), Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA)
,
PECHT Michael
(Center for Advanced Life Cycle Engineering (CALCE), Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 55 号： 3-4 ページ： 582-587 発行年： 2015年02月
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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