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文献
J-GLOBAL ID:201502262491651575   整理番号:15A0434661

マグネシウムの傾斜角イオン注入を使ったGaN MISFETの閾値電圧制御

THRESHOLD VOLTAGE CONTROL OF GaN MISFETs USING TILT ANGLE ION IMPLANTATION OF MAGNESIUM
著者 (5件):
KASAI Hayao
(Hosei Univ., Tokyo, JPN)
OIKAWA Takuya
(Hosei Univ., Tokyo, JPN)
OGAWA Hiroki
(Hosei Univ., Tokyo, JPN)
MISHIMA Tomoyoshi
(Hosei Univ., Tokyo, JPN)
NAKAMURA Tohru
(Hosei Univ., Tokyo, JPN)

資料名:
Report of Research Center of Ion Beam Technology, Hosei University. Supplement  (Report of Research Center of Ion Beam Technology, Hosei University. Supplement)

号: 33  ページ: 91-96  発行年: 2015年03月 
JST資料番号: L0263A  ISSN: 0914-2908  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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