文献
J-GLOBAL ID:201502264014162123
整理番号:15A0533126
表面活性化ボンディングによるSi/Si接合の電気特性のアニール効果
Effects of annealing on electrical properties of Si/Si junctions by surface-activated bonding
著者 (4件):
MORIMOTO Masashi
(Osaka City Univ., Osaka, JPN)
,
LIANG Jianbo
(Osaka City Univ., Osaka, JPN)
,
NISHIDA Shota
(Osaka City Univ., Osaka, JPN)
,
SHIGEKAWA Naoteru
(Osaka City Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
54
号:
3
ページ:
030212.1-030212.5
発行年:
2015年03月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)