文献
J-GLOBAL ID:201502264950810463
整理番号:15A0491366
飛行時間質量分析のパルスラジオ波グロー放電時間による非晶質シリコン薄膜太陽電池の深さプロフィル分析
Depth Profile Analysis of Amorphous Silicon Thin Film Solar Cells by Pulsed Radiofrequency Glow Discharge Time of Flight Mass Spectrometry
著者 (6件):
ALVAREZ-TORAL Aitor
(Univ. Oviedo, Oviedo, ESP)
,
SANCHEZ Pascal
(Energy Area (EN) - ITMA Materials Technol. (ITMA Foundation), Aviles, ESP)
,
MENENDEZ Armando
(Energy Area (EN) - ITMA Materials Technol. (ITMA Foundation), Aviles, ESP)
,
PEREIRO Rosario
(Univ. Oviedo, Oviedo, ESP)
,
SANZ-MEDEL Alfredo
(Univ. Oviedo, Oviedo, ESP)
,
FERNANDEZ Beatriz
(Univ. Oviedo, Oviedo, ESP)
資料名:
Journal of the American Society for Mass Spectrometry
(Journal of the American Society for Mass Spectrometry)
巻:
26
号:
2
ページ:
305-314
発行年:
2015年02月
JST資料番号:
W0174A
ISSN:
1044-0305
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)