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文献
J-GLOBAL ID：201502269412228233
整理番号：15A0204165
マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測
Prediction of Performance Degradation and Lifetime for Semiconductor Devices Using Markov Chain Model
桃田快
(大阪大 大学院情報科学研究科)
,
遠藤幸一
(大阪大 大学院情報科学研究科)
,
御堂義博
(大阪大 大学院情報科学研究科)
,
三浦克介
(大阪大 大学院情報科学研究科)
,
中前幸治
(大阪大 大学院情報科学研究科)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 114 号： 314(R2014 61-64) ページ： 1-5 発行年： 2014年11月13日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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