文献
J-GLOBAL ID:201502272263929011
整理番号:15A0743100
大きく縮小化した技術におけるプロセス変動下でのSTT-MRAMの再構成可能なコデザイン
Reconfigurable Codesign of STT-MRAM Under Process Variations in Deeply Scaled Technology
著者 (7件):
KANG Wang
(Beihang Univ., Beijing, CHN)
,
ZHANG Liuyang
(Beihang Univ., Beijing, CHN)
,
KLEIN Jacques-Olivier
(Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
,
ZHANG Youguang
(Beihang Univ., Beijing, CHN)
,
RAVELOSONA Dafine
(Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
,
ZHAO Weisheng
(Beihang Univ., Beijing, CHN)
,
ZHAO Weisheng
(Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
62
号:
6
ページ:
1769-1777
発行年:
2015年06月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)