文献
J-GLOBAL ID:201502274392238818
整理番号:15A0513563
WHTOL試験のもとでのLEDにおけるリードフレーム電極間での反射器の黒変に関する故障解析
Failure analysis on reflector blackening between lead frame electrodes in LEDs under WHTOL test
著者 (6件):
ZHANG Lei
(Dep. of Mechanical and Aerospace Engineering, The Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Kowloon, Hong Kong)
,
ZHU Yejun
(Dep. of Mechanical and Aerospace Engineering, The Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Kowloon, Hong Kong)
,
CHEN Haibin
(Dep. of Mechanical and Aerospace Engineering, The Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Kowloon, Hong Kong)
,
LEUNG Karina
(Lightning Optoelectronic Technol. (SZ) Co., Ltd., Shenzhen, CHN)
,
WU Yeqing
(Lightning Optoelectronic Technol. (SZ) Co., Ltd., Shenzhen, CHN)
,
WU Jingshen
(Dep. of Mechanical and Aerospace Engineering, The Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Kowloon, Hong Kong)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
55
号:
5
ページ:
799-806
発行年:
2015年04月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)