文献
J-GLOBAL ID:201502278571512030
整理番号:15A0535519
プロセス変化の存在下でのブリッジ欠陥を試験する低VDD条件とボディバイアス条件
Low V and body bias conditions for testing bridge defects in the presence of process variations
著者 (5件):
VILLACORTA Hector
(National Inst. for Astrophysics, Optics and Electronics, MEX)
,
VILLACORTA Hector
(GSE - UIB, Univ. of Balearic Islands, ESP)
,
GARCIA-GERVACIO Jose
(Univ. of Veracruz, MEX)
,
SEGURA Jaume
(GSE - UIB, Univ. of Balearic Islands, ESP)
,
CHAMPAC Victor
(National Inst. for Astrophysics, Optics and Electronics, MEX)
資料名:
Microelectronics Journal
(Microelectronics Journal)
巻:
46
号:
5
ページ:
398-403
発行年:
2015年05月
JST資料番号:
A0186A
ISSN:
0026-2692
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)