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文献
J-GLOBAL ID：201502280235077851
整理番号：15A0247248
歯科インプラント材の表面上の室内普遍汚染物の検出のためのFourier変換分光イメージング顕微鏡法(FT-SIM)および走査型ラマン顕微鏡法
Fourier transform spectral imaging microscopy (FT-SIM) and scanning Raman microscopy for the detection of indoor common contaminants on the surface of dental implants
LUTIN Anna
(Schulich department of chemistry, Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR)
,
BULATOV Valery
(Schulich department of chemistry, Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR)
,
JADWAT Yusuf
(Periodontology and Oral Medicine, School of Oral Health Sciences, Fac. of Health Sciences, Univ. of Limpopo, Medunsa ...)
,
WOOD Neil H.
(Periodontology and Oral Medicine, School of Oral Health Sciences, Fac. of Health Sciences, Univ. of Limpopo, Medunsa ...)
,
FELLER Liviu
(Periodontology and Oral Medicine, School of Oral Health Sciences, Fac. of Health Sciences, Univ. of Limpopo, Medunsa ...)
,
SCHECHTER Israel
(Schulich department of chemistry, Technion - Israel Inst. of Technol., Haifa 32000, ISR)
資料名：
Talanta
(Talanta)
巻： 134 ページ： 514-523 発行年： 2015年03月01日
JST資料番号： E0324A ISSN： 0039-9140 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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