文献
J-GLOBAL ID:201502282377005788
整理番号:15A0336480
FinFET寄生抵抗の為の正確な閉表現モデル
An accurate closed-expression model for FinFETs parasitic resistance
著者 (2件):
PEREIRA A.S.N.
(Dep. of Electrical Engineering, Centro Universitario da FEI, Sao Bernardo do Campo, Sao Paulo 09850, BRA)
,
GIACOMINI R.
(Dep. of Electrical Engineering, Centro Universitario da FEI, Sao Bernardo do Campo, Sao Paulo 09850, BRA)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
55
号:
3-4
ページ:
470-480
発行年:
2015年02月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)