文献
J-GLOBAL ID:201502283198737535
整理番号:15A0304317
アモルファス薄膜トランジスタの寄生抵抗を別々に抽出するための二重スイープ組合せ相互コンダクタンス法
Dual-Sweep Combinational Transconductance Technique for Separate Extraction of Parasitic Resistances in Amorphous Thin-Film Transistors
著者 (7件):
JUN Sungwoo
(Kookmin Univ., Seoul, KOR)
,
BAE Hagyoul
(Kookmin Univ., Seoul, KOR)
,
KIM Hyeongjung
(Kookmin Univ., Seoul, KOR)
,
LEE Jungmin
(Kookmin Univ., Seoul, KOR)
,
CHOI Sung-Jin
(Kookmin Univ., Seoul, KOR)
,
KIM Dae Hwan
(Kookmin Univ., Seoul, KOR)
,
KIM Dong Myong
(Kookmin Univ., Seoul, KOR)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
36
号:
2
ページ:
144-146
発行年:
2015年02月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)