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文献
J-GLOBAL ID：201502299184897495
整理番号：15A0350792
新しい表面元素分析法の開発 X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)
Development of a Novel Surface Elemental Analysis Methodology: X-ray-Aided Noncontact Atomic Force Microscopy (XANAM)
SUZUKI Shushi
(Dep. of Crystalline Materials Sci., Graduate School of Engineering, Nagoya Univ.)
資料名：
Bulletin of the Chemical Society of Japan
(Bulletin of the Chemical Society of Japan)
巻： 88 号： 2 ページ： 240-250 (J-STAGE) 発行年： 2015年
JST資料番号： G0450A ISSN： 0009-2673 CODEN： BCSJA8 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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