文献
J-GLOBAL ID:201502299700179090
整理番号:15A0199512
シングルイベントラッチアップ(SEL)最小化のための井戸型構造の研究
Exploring Well-Configurations for Minimizing Single Event Latchup
著者 (7件):
UEMURA Taiki
(Fujitsu Semiconductor Ltd., Tokyo, JPN)
,
KATO Takashi
(Fujitsu Semiconductor Ltd., Tokyo, JPN)
,
TANABE Ryo
(Fujitsu Semiconductor Ltd., Tokyo, JPN)
,
IWATA Hiroshi
(Fujitsu Semiconductor Ltd., Tokyo, JPN)
,
ARIYOSHI Junichi
(Fujitsu Semiconductor Ltd., Mie, JPN)
,
MATSUYAMA Hideya
(Fujitsu Semiconductor Ltd., Tokyo, JPN)
,
HASHIMOTO Masanori
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
61
号:
6,Pt.1
ページ:
3282-3289
発行年:
2014年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)