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文献
J-GLOBAL ID：201602201956497135
整理番号：16A0187906
グラフェン単層における格子点位置の高分解能透過型電子顕微鏡法を用いた定量測定に及ぼす非回転対称収差の効果
Effects of non-rotationally symmetric aberrations on the quantitative measurement of lattice positions in a graphene monolayer using high-resolution transmission electron microscopy
LIN Fang
(South China Agricultural Univ., Guangzhou, CHN)
,
LIN Fang
(Zhejiang Univ., Hangzhou, CHN)
,
JIAN Jiajun
(South China Agricultural Univ., Guangzhou, CHN)
,
YE Lvshan
(South China Agricultural Univ., Guangzhou, CHN)
,
JIN Chuanhong
(Zhejiang Univ., Hangzhou, CHN)
資料名：
Microscopy
(Microscopy)
巻： 64 号： 5 ページ： 311-318 発行年： 2015年10月
JST資料番号： W1384A ISSN： 2050-5698 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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