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文献
J-GLOBAL ID:201602202641318824   整理番号:16A0195998

光学顕微鏡法との相関を利用した半薄断面の走査電子顕微鏡法による高分解能イメージング

High-resolution imaging by scanning electron microscopy of semithin sections in correlation with light microscopy
著者 (6件):
KOGA Daisuke
(Niigata Univ. Graduate School of Medical and Dental Sci., Niigata, JPN)
KOGA Daisuke
(Asahikawa Medical Univ., Hokkaido, JPN)
KUSUMI Satoshi
(Niigata Univ. Graduate School of Medical and Dental Sci., Niigata, JPN)
SHODO Ryusuke
(Niigata Univ., Niigata, JPN)
DAN Yukari
(Hitachi High-Technol. Corp. Sci. and Medical Systems Business Group, Kawasaki, JPN)
USHIKI Tatsuo
(Niigata Univ. Graduate School of Medical and Dental Sci., Niigata, JPN)

資料名:
Microscopy  (Microscopy)

巻: 64  号:ページ: 387-394  発行年: 2015年12月 
JST資料番号: W1384A  ISSN: 2050-5698  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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