文献
J-GLOBAL ID:201602202641318824
整理番号:16A0195998
光学顕微鏡法との相関を利用した半薄断面の走査電子顕微鏡法による高分解能イメージング
High-resolution imaging by scanning electron microscopy of semithin sections in correlation with light microscopy
著者 (6件):
KOGA Daisuke
(Niigata Univ. Graduate School of Medical and Dental Sci., Niigata, JPN)
,
KOGA Daisuke
(Asahikawa Medical Univ., Hokkaido, JPN)
,
KUSUMI Satoshi
(Niigata Univ. Graduate School of Medical and Dental Sci., Niigata, JPN)
,
SHODO Ryusuke
(Niigata Univ., Niigata, JPN)
,
DAN Yukari
(Hitachi High-Technol. Corp. Sci. and Medical Systems Business Group, Kawasaki, JPN)
,
USHIKI Tatsuo
(Niigata Univ. Graduate School of Medical and Dental Sci., Niigata, JPN)
資料名:
Microscopy
(Microscopy)
巻:
64
号:
6
ページ:
387-394
発行年:
2015年12月
JST資料番号:
W1384A
ISSN:
2050-5698
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)