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文献
J-GLOBAL ID：201602203382890537
整理番号：16A0016512
MOSFETとFinFETフリップフロップにおける書き込み障害に与えるNBTI/PBTIとプロセス変動の効果
Effect of NBTI/PBTI aging and process variations on write failures in MOSFET and FinFET flip-flops
KHALID Usman
(Dept. of Information Engineering, Electronics and Telecommunications, Sapienza Univ. of Rome, ITA)
,
MASTRANDREA Antonio
(Dept. of Information Engineering, Electronics and Telecommunications, Sapienza Univ. of Rome, ITA)
,
OLIVIERI Mauro
(Dept. of Information Engineering, Electronics and Telecommunications, Sapienza Univ. of Rome, ITA)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 55 号： 12 PB ページ： 2614-2626 発行年： 2015年12月
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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