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文献
J-GLOBAL ID：201602205828970770
整理番号：16A0116328
同時に行われるマイクロチャネルカンチレバがある走査型のイオン伝導顕微鏡法および原子間力顕微鏡法
Simultaneous Scanning Ion Conductance Microscopy and Atomic Force Microscopy with Microchanneled Cantilevers
OSSOLA Dario
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
DORWLING-CARTER Livie
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
DERMUTZ Harald
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
BEHR Pascal
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
VOEROES Janos
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
,
ZAMBELLI Tomaso
(ETH Zurich, Zurich, CHE)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 115 号： 23 ページ： 238103.1-238103.5 発行年： 2015年12月04日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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