文献
J-GLOBAL ID:201602206165467358
整理番号:16A0229207
フレッチングによる時効時の狭窄からマイクロアーク値への電圧の統計解析
Statistical Analysis of Voltage from Constriction to Micro-arc Values during Aging by Fretting
著者 (8件):
EL MOSSOUESS S.
(Univ. Rennes 1, Rennes, FRA)
,
EL MOSSOUESS S.
(Entreprise Valeo, Creteil, FRA)
,
CHOI E.Yee Kin
(Univ. Rennes 1, Rennes, FRA)
,
BENJEMAA N.
(Entreprise Contelec, Rennes, FRA)
,
EL ABDI R.
(Univ. Rennes 1, Rennes, FRA)
,
DOUBLET L.
(Entreprise Valeo, Creteil, FRA)
,
RODARI T.
(Entreprise Valeo, Creteil, FRA)
,
CARVOU E.
(Univ. Rennes 1, Rennes, FRA)
資料名:
Proceedings of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts
(Proceedings of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts)
巻:
61st
ページ:
304-308
発行年:
2015年
JST資料番号:
E0462C
ISSN:
1062-6808
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)