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文献
J-GLOBAL ID：201602207086911001
整理番号：16A0226911
薄いと厚い多層透明複合材料のその場非破壊評価のための低コヒーレンス干渉の応用
Application of low-coherence interferometry for in situ nondestructive evaluation of thin and thick multilayered transparent composites
KHOMENKO Anton
(Michigan State Univ., Michigan, USA)
,
CLOUD Gary Lee
(Michigan State Univ., Michigan, USA)
,
HAQ Mahmoodul
(Michigan State Univ., Michigan, USA)
資料名：
Optical Engineering
(Optical Engineering)
巻： 54 号： 12 ページ： 125103.1-125103.9 発行年： 2015年12月
JST資料番号： B0577B ISSN： 0091-3286 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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