文献
J-GLOBAL ID:201602207086911001
整理番号:16A0226911
薄いと厚い多層透明複合材料のその場非破壊評価のための低コヒーレンス干渉の応用
Application of low-coherence interferometry for in situ nondestructive evaluation of thin and thick multilayered transparent composites
著者 (3件):
KHOMENKO Anton
(Michigan State Univ., Michigan, USA)
,
CLOUD Gary Lee
(Michigan State Univ., Michigan, USA)
,
HAQ Mahmoodul
(Michigan State Univ., Michigan, USA)
資料名:
Optical Engineering
(Optical Engineering)
巻:
54
号:
12
ページ:
125103.1-125103.9
発行年:
2015年12月
JST資料番号:
B0577B
ISSN:
0091-3286
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)