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文献
J-GLOBAL ID:201602212376661835   整理番号:16A0193951

統合計測法によるロット内オーバレイ変化の低減と総合的な制御戦略

Reduction of in-lot overlay variation with integrated metrology, and a holistic control strategy
著者 (16件):
LEE Hong-Goo
(SK hynix, KOR)
HAN Sang-Jun
(SK hynix, KOR)
MA Won-Kwang
(SK hynix, KOR)
KIM Young-Sik
(SK hynix, KOR)
KWAK Noh-Jung
(SK hynix, KOR)
BOECKER Paul
(ASML, NLD)
DECKERS David
(ASML, NLD)
KOU Weitian
(ASML, NLD)
KUPERS Michiel
(ASML, NLD)
RYAN Kevin
(ASML, NLD)
MCNAMARA Elliott
(ASML, KOR)
KIM Gwang-Gon
(ASML, KOR)
SUN Kyu-Tae
(ASML, KOR)
LIM Young-Wan
(ASML, KOR)
BYUN Jin-Moo
(ASML, KOR)
SUH Jung-Joon
(ASML, KOR)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 9635  ページ: 96351S.1-96351S.7  発行年: 2015年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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