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文献
J-GLOBAL ID：201602213186693958
整理番号：16A0137206
バイポーラ接合トランジスタのはじき出し損傷感度のスクリーンとしての陽子照射
Proton Irradiation as a Screen for Displacement-Damage Sensitivity in Bipolar Junction Transistors
ARUTT Charles N.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
WARREN Kevin M.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
SCHRIMPF Ronald D.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
WELLER Robert A.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
KAUPPILA Jeffrey S.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
ROWE Jason D.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
STERNBERG Andrew L.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
REED Robert A.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
BALL Dennis R.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
FLEETWOOD Daniel M.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 62 号： 6,Pt.1 ページ： 2498-2504 発行年： 2015年12月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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