文献
J-GLOBAL ID:201602213186693958
整理番号:16A0137206
バイポーラ接合トランジスタのはじき出し損傷感度のスクリーンとしての陽子照射
Proton Irradiation as a Screen for Displacement-Damage Sensitivity in Bipolar Junction Transistors
著者 (10件):
ARUTT Charles N.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
WARREN Kevin M.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
SCHRIMPF Ronald D.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
WELLER Robert A.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
KAUPPILA Jeffrey S.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
ROWE Jason D.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
STERNBERG Andrew L.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
REED Robert A.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
BALL Dennis R.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
FLEETWOOD Daniel M.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
62
号:
6,Pt.1
ページ:
2498-2504
発行年:
2015年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)