文献
J-GLOBAL ID:201602213700819841
整理番号:16A1031690
Raman分光法による半導体ナノ結晶の内部構造の測定と予測
Measuring and Predicting the Internal Structure of Semiconductor Nanocrystals through Raman Spectroscopy
著者 (5件):
MUKHERJEE Prabuddha
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, Illinois, USA)
,
LIM Sung Jun
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, Illinois, USA)
,
WROBEL Tomasz P.
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, Illinois, USA)
,
BHARGAVA Rohit
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, Illinois, USA)
,
SMITH Andrew M.
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, Illinois, USA)
資料名:
Journal of the American Chemical Society
(Journal of the American Chemical Society)
巻:
138
号:
34
ページ:
10887-10896
発行年:
2016年08月31日
JST資料番号:
C0254A
ISSN:
0002-7863
CODEN:
JACSAT
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)