前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:201602214934135501   整理番号:16A0168667

全線量照射により誘起された市販のディープサブミクロンSRAMの機能的故障モードの解析【Powered by NICT】

Analysis of functional failure mode of commercial deep sub-micron SRAM induced by total dose irradiation
著者 (8件):
Zheng Qiwen
(Xinjiang Technical Inst. of Physics and Chemistry, Chinese Acad. of Sciences Key Lab. of Functional Materials and ...)
Cui Jiangwei
(Xinjiang Technical Inst. of Physics and Chemistry, Chinese Acad. of Sciences Key Lab. of Functional Materials and ...)
Zhou Hang
(Xinjiang Technical Inst. of Physics and Chemistry, Chinese Acad. of Sciences Key Lab. of Functional Materials and ...)
Yu Dezhao
(Xinjiang Technical Inst. of Physics and Chemistry, Chinese Acad. of Sciences Key Lab. of Functional Materials and ...)
Yu Xuefeng
(Xinjiang Technical Inst. of Physics and Chemistry, Chinese Acad. of Sciences Key Lab. of Functional Materials and ...)
Lu Wu
(Xinjiang Technical Inst. of Physics and Chemistry, Chinese Acad. of Sciences Key Lab. of Functional Materials and ...)
Guo Qi
(Xinjiang Technical Inst. of Physics and Chemistry, Chinese Acad. of Sciences Key Lab. of Functional Materials and ...)
Ren Diyuan
(Xinjiang Technical Inst. of Physics and Chemistry, Chinese Acad. of Sciences Key Lab. of Functional Materials and ...)

資料名:
Chinese Physics B  (Chinese Physics B)

巻: 24  号: 10  ページ: 106106-1-106106-6  発行年: 2015年 
JST資料番号: W1539A  ISSN: 1674-1056  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。