文献
J-GLOBAL ID:201602215521621765
整理番号:16A0278046
高解像度透過型電子顕微鏡とデジタル画像相関を用いたナノ変形解析
Nanoscale Deformation Analysis With High-Resolution Transmission Electron Microscopy and Digital Image Correlation
著者 (8件):
WANG Xueju
(Georgia Inst. of Technol., GA)
,
PAN Zhipeng
(Georgia Inst. of Technol., GA)
,
FAN Feifei
(Georgia Inst. of Technol., GA)
,
WANG Jiangwei
(Univ. Pittsburgh, PA)
,
LIU Yang
(Sandia National Lab., NM)
,
MAO Scott X.
(Univ. Pittsburgh, PA)
,
ZHU Ting
(Univ. Pittsburgh, PA)
,
XIA Shuman
(Univ. Pittsburgh, PA)
資料名:
Journal of Applied Mechanics
(Journal of Applied Mechanics)
巻:
82
号:
12
ページ:
121001.1-121001.9
発行年:
2015年12月
JST資料番号:
C0660A
ISSN:
0021-8936
CODEN:
JAMCAV
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)