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J-GLOBAL ID：201602215785408644 整理番号：16A0187912

電子染色のスクリーニングに向けてアフィニティービーズと後方散乱電子像に基づいた高速コントラスト評価方法

Rapid contrast evaluation method based on affinity beads and backscattered electron imaging for the screening of electron stains

著者 (6件)：

KAKU Hiroki

(Kobe Univ., Kobe, JPN)

INOUE Kanako

(Kobe Univ., Kobe, JPN)

INOUE Kanako

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

MURANAKA Yoshinori

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

PARK Pyoyun

(Kobe Univ., Kobe, JPN)

IKEDA Kenichi

(Kobe Univ., Kobe, JPN)

資料名：

Microscopy (Microscopy)

巻： 64 号： 5 ページ： 361-368 発行年： 2015年10月
JST資料番号： W1384A ISSN： 2050-5698 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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