文献
J-GLOBAL ID:201602216265511914
整理番号:16A1348803
高分子凍結法による無機レジストに発生するパターン破壊の軽減
Pattern collapse mitigation in inorganic resists via a polymer freeze technique
著者 (4件):
Kulmala Tero S.
(Laboratory for Micro and Nanotechnology, Paul Scherrer Institute, Villigen, Switzerland)
,
Buitrago Elizabeth
(Laboratory for Micro and Nanotechnology, Paul Scherrer Institute, Villigen, Switzerland)
,
Vockenhuber Michaela
(Laboratory for Micro and Nanotechnology, Paul Scherrer Institute, Villigen, Switzerland)
,
Ekinci Yasin
(Laboratory for Micro and Nanotechnology, Paul Scherrer Institute, Villigen, Switzerland)
資料名:
Microelectronic Engineering
(Microelectronic Engineering)
巻:
155
ページ:
39-43
発行年:
2016年04月02日
JST資料番号:
C0406B
ISSN:
0167-9317
CODEN:
MIENEF
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)