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J-GLOBAL ID：201602217163010488 整理番号：16A0731409

Au/HfO_2高k膜の界面における電流伝導機構に及ぼすトラッピングとデトラッピング効果【JST・京大機械翻訳】

Trapping and Detrapping Effects on Current Conduction Mechanisms at Interface of Au/HfO_2 High-k Films

著者 (2件)：

Zhang Yuqian

(Northwestern Polytechnical University)

Fu Li

(Northwestern Polytechnical University)

資料名：

Xiyou Jinshu Cailiao yu Gongcheng (Xiyou Jinshu Cailiao yu Gongcheng)

巻： 44 号： 12 ページ： 2992-2995 発行年： 2015年12月
JST資料番号： W0563A ISSN： 1002-185X CODEN： XJCGEA 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：中国 (CHN) 言語：英語 (EN)

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