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文献
J-GLOBAL ID:201602217668906156   整理番号:16A0053264

酸素プラズマ処理を用いたCu/n型InP Schottky接合の電気的性質の変調

Modulation of electrical properties in Cu/n-type InP Schottky junctions using oxygen plasma treatment
著者 (5件):
KIM Hogyoung
(Seoul National Univ. Sci. and Technol. (Seoultech), Seoul, KOR)
CHO Yunae
(Ewha Womans Univ., Seoul, KOR)
JUNG Chan Yeong
(Seoul National Univ. Sci. and Technol. (Seoultech), Seoul, KOR)
KIM Se Hyun
(Seoul National Univ. Sci. and Technol. (Seoultech), Seoul, KOR)
KIM Dong-Wook
(Ewha Womans Univ., Seoul, KOR)

資料名:
Semiconductor Science and Technology  (Semiconductor Science and Technology)

巻: 30  号: 12  ページ: 125016,1-9  発行年: 2015年12月 
JST資料番号: E0503B  ISSN: 0268-1242  CODEN: SSTEET  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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