文献
J-GLOBAL ID:201602217824848927
整理番号:16A0137217
16nm FinFET Dフリップフロップのシングルイベントアップセットのバイアス依存性
Bias Dependence of Single-Event Upsets in 16nm FinFET D-Flip-Flops
著者 (12件):
NARASIMHAM Balaji
(Broadcom Corp., CA, USA)
,
HATAMI Safar
(Broadcom Corp., CA, USA)
,
ANVAR Ali
(Broadcom Corp., CA, USA)
,
HARRIS David M.
(Harvey Mudd Coll., CA, USA)
,
LIN Alvin
(Broadcom Corp., CA, USA)
,
WANG Jung K.
(Broadcom Corp., CA, USA)
,
CHATTERJEE Indranil
(Univ. Bristol, Bristol, GBR)
,
NI Kai
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
BHUVA Bharat L.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
SCHRIMPF Ronald D.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
REED Robert A.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
,
MCCURDY Mike W.
(Vanderbilt Univ., TN, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
62
号:
6,Pt.1
ページ:
2578-2584
発行年:
2015年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)