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文献
J-GLOBAL ID：201602220541683581
整理番号：13A1235972
A Raman Study of the Origin of Oxygen Defects in Hexagonal Manganite Thin Films
Chen Xiangbai
(Dep. of Nano Sci. & Mechanical Engineering and Nanotechnology Res. Center, Konkuk Univ., Korea, Chungju)
,
Hien Nguyen Thi Minh
(Dep. of Physics and Div. of Nano-Sciences, Ewha Womans Univ., Korea, Seoul)
,
Yang Insang
(Dep. of Physics and Div. of Nano-Sciences, Ewha Womans Univ., Korea, Seoul)
,
Lee Daesu
(ReCFI, Dep. of Physics and Astronomy, Seoul National Univ., Korea, Seoul)
,
Noh Taewon
(ReCFI, Dep. of Physics and Astronomy, Seoul National Univ., Korea, Seoul)
資料名：
Chinese Physics Letters
(Chinese Physics Letters)
巻： 29 号： 12 ページ： 126103-1-126103-4 発行年： 2012年
JST資料番号： W1191A ISSN： 0256-307X 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 中国 (CHN) 言語： 英語 (EN)
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