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文献
J-GLOBAL ID:201602232081566660   整理番号:16A0600170

過渡熱応力下でのLN2絶縁破壊特性の圧力依存性とサイズ効果【Powered by NICT】

Pressure Dependence and Size Effect of LN2 Breakdown Characteristics Under Transient Thermal Stress
著者 (6件):
Hayakawa N.
(Dept. of Electr. Eng. & Comput. Sci., Nagoya Univ., Nagoya, Japan)
Matsuoka T.
(Dept. of Electr. Eng. & Comput. Sci., Nagoya Univ., Nagoya, Japan)
Ishida K.
(Dept. of Electr. Eng. & Comput. Sci., Nagoya Univ., Nagoya, Japan)
Kojima H.
(Dept. of Electr. Eng. & Comput. Sci., Nagoya Univ., Nagoya, Japan)
Isojima S.
(Sumitomo Electr. Ind. Ltd., Osaka, Japan)
Kuwata M.
(Nissin Electr. Co. Ltd., Kyoto, Japan)

資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)

巻: 26  号:ページ: ROMBUNNO.7700604.1-4  発行年: 2016年 
JST資料番号: W0177A  ISSN: 1051-8223  CODEN: ITASE9  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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