文献
J-GLOBAL ID:201602232081566660
整理番号:16A0600170
過渡熱応力下でのLN2絶縁破壊特性の圧力依存性とサイズ効果【Powered by NICT】
Pressure Dependence and Size Effect of LN2 Breakdown Characteristics Under Transient Thermal Stress
著者 (6件):
Hayakawa N.
(Dept. of Electr. Eng. & Comput. Sci., Nagoya Univ., Nagoya, Japan)
,
Matsuoka T.
(Dept. of Electr. Eng. & Comput. Sci., Nagoya Univ., Nagoya, Japan)
,
Ishida K.
(Dept. of Electr. Eng. & Comput. Sci., Nagoya Univ., Nagoya, Japan)
,
Kojima H.
(Dept. of Electr. Eng. & Comput. Sci., Nagoya Univ., Nagoya, Japan)
,
Isojima S.
(Sumitomo Electr. Ind. Ltd., Osaka, Japan)
,
Kuwata M.
(Nissin Electr. Co. Ltd., Kyoto, Japan)
資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻:
26
号:
3
ページ:
ROMBUNNO.7700604.1-4
発行年:
2016年
JST資料番号:
W0177A
ISSN:
1051-8223
CODEN:
ITASE9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)