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文献
J-GLOBAL ID:201602233966071061   整理番号:16A0410429

分極分析を持つ時間分解走査電子顕微鏡

Time-resolved scanning electron microscopy with polarization analysis
著者 (10件):
FROEMTER Robert
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
KLOODT Fabian
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
ROESSLER Stefan
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
FRAUEN Axel
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
STAECK Philipp
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
CAVICCHIA Demetrio R.
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
BOCKLAGE Lars
(Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, DEU)
ROEBISCH Volker
(Inst. for Materials Sci., Christian-Albrechts-Universitaet zu Kiel, 24143 Kiel, DEU)
QUANDT Eckhard
(Inst. for Materials Sci., Christian-Albrechts-Universitaet zu Kiel, 24143 Kiel, DEU)
OEPEN Hans Peter
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 108  号: 14  ページ: 142401-142401-5  発行年: 2016年04月04日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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