文献
J-GLOBAL ID:201602233966071061
整理番号:16A0410429
分極分析を持つ時間分解走査電子顕微鏡
Time-resolved scanning electron microscopy with polarization analysis
著者 (10件):
FROEMTER Robert
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
,
KLOODT Fabian
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
,
ROESSLER Stefan
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
,
FRAUEN Axel
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
,
STAECK Philipp
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
,
CAVICCHIA Demetrio R.
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
,
BOCKLAGE Lars
(Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, DEU)
,
ROEBISCH Volker
(Inst. for Materials Sci., Christian-Albrechts-Universitaet zu Kiel, 24143 Kiel, DEU)
,
QUANDT Eckhard
(Inst. for Materials Sci., Christian-Albrechts-Universitaet zu Kiel, 24143 Kiel, DEU)
,
OEPEN Hans Peter
(Inst. fuer Nanostruktur-und Festkoerperphysik, Universitaet Hamburg, Jungiusstrasse 11, 20355 Hamburg, DEU)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
108
号:
14
ページ:
142401-142401-5
発行年:
2016年04月04日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)