文献
J-GLOBAL ID:201602237334172888
整理番号:16A0694575
サブ30MHzエミッション試験システムのためのFPGA-利用任意波形発生器を用いた高平坦性対数スケールコム発生器【Powered by NICT】
High flatness log-scale comb-generator using FPGA-based arbitrary waveform generator for sub-30 MHz emission test systems
著者 (2件):
Ameya Michitaka
(Research Institute for Physical Measurement, NMIJ, AIST, Tsukuba, Japan)
,
Kurokawa Satoru
(Research Institute for Physical Measurement, NMIJ, AIST, Tsukuba, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
APEMC
ページ:
732-734
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)