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文献
J-GLOBAL ID：201602237389613049
整理番号：16A0772354
ウェアラブルエレクトロニクス用のプロセス変動耐性フレキシブル回路【Powered by NICT】
Process-variation tolerant flexible circuit for wearable electronics
Huang Tsung-Ching
(Hewlett Packard Labs, Palo Alto, USA)
,
Cheng Kwang-Ting
(Dept. of Electrical and Computer Engineering, University of California, Santa Barbara, USA)
,
Beausoleil Raymond
(Hewlett Packard Labs, Palo Alto, USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： ISCAS ページ： 353-356 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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