文献
J-GLOBAL ID:201602240948172882
整理番号:16A0635249
IoT応用のためのSRAMビットセルの信頼性とエネルギーの最適化【Powered by NICT】
Optimizing SRAM bitcell reliability and energy for IoT applications
著者 (3件):
Patel Harsh N.
(University of Virginia, USA)
,
Yahya Farah B.
(University of Virginia, USA)
,
Calhoun Benton H.
(University of Virginia, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ISQED
ページ:
12-17
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)