文献
J-GLOBAL ID:201602241074704406
整理番号:16A0977950
nとpFinFETsにおける不安定性の原因となる欠陥バンドの完全抽出【Powered by NICT】
Complete extraction of defect bands responsible for instabilities in n and pFinFETs
著者 (8件):
Rzepa G.
(TU Wien, Vienna, Austria)
,
Waltl M.
(TU Wien, Vienna, Austria)
,
Goes W.
(TU Wien, Vienna, Austria)
,
Kaczer B.
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Franco J.
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Chiarella T.
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Horiguchi N.
(IMEC, Leuven, Belgium)
,
Grasser T.
(TU Wien, Vienna, Austria)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
VLSI Technology
ページ:
1-2
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)