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文献
J-GLOBAL ID：201602246529339436
整理番号：16A0768932
XRFおよびXPS分析avogadro定数の決定によるシリコン球の表面特性化【Powered by NICT】
Surface characterization of silicon spheres by combined XRF and XPS analysis for determination of the avogadro constant
Fliegauf Rolf
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany)
,
Beckhoff Burkhard
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany)
,
Beyer Edyta
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Bundesallee 100, 38116 Braunschweig, Germany)
,
Darlatt Erik
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany)
,
Holfelder Ina
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany)
,
Honicke Philipp
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany)
,
Ulm Gerhard
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany)
,
Kolbe Michael
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Abbestr. 2-12, 10587 Berlin, Germany)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： CPEM 2016 ページ： 1-2 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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