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文献
J-GLOBAL ID：201602249446734924
整理番号：13A1254125
Diagnosis of soft faults in analog integrated circuits based on fractional correlation
Deng Yong
(School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu)
,
Shi Yibing
(School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu)
,
Zhang Wei
(School of Automation Engineering, Univ. of Electronic Sci. and Technol. of China, Chengdu)
資料名：
Journal of Semiconductors
(Journal of Semiconductors)
巻： 33 号： 8 ページ： 085007-1-085007-6 発行年： 2012年
JST資料番号： C2377A ISSN： 1674-4926 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 中国 (CHN) 言語： 英語 (EN)
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