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文献
J-GLOBAL ID：201602255097902171
整理番号：16A0949750
電子デバイスの非破壊精密検査を目的とした多軸X線CTの開発
加納徹
(東京工科大)
,
小関道彦
(信州大)
資料名：
センシングフォーラム資料(CD-ROM)
(計測自動制御学会センシングフォーラム計測部門大会予稿集)
巻： 33rd ページ： ROMBUNNO.1C2-2 発行年： 2016年09月01日
JST資料番号： L2566B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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