文献
J-GLOBAL ID:201602256626801866
整理番号:16A1385641
エレクトロマイグレーションにおけるFe45Ni UBMの優れた信頼性【Powered by NICT】
Superior reliability of Fe-45Ni UBM in electromigration
著者 (5件):
Gao Li-Yin
(Institute of Metal Research, Chinese Academy of Sciences, Shenyang 110016, China)
,
Liu Zhi-Quan
(Institute of Metal Research, Chinese Academy of Sciences, Shenyang 110016, China)
,
Zhang Li
(Jiangyin Changdian Advanced Packaging Co., Ltd., 214431, China)
,
Guo Hongyan
(Jiangyin Changdian Advanced Packaging Co., Ltd., 214431, China)
,
Lai Chi-Ming
(Jiangyin Changdian Advanced Packaging Co., Ltd., 214431, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ESTC
ページ:
1-5
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)