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文献
J-GLOBAL ID:201602257063480140   整理番号:16A0449225

Sn系IV族半導体混晶薄膜の成長と物性評価

Growth and characterization of Sn-containing group-IV semiconductor thin film
著者 (9件):
志村洋介
(名古屋大 大学院工学研究科)
志村洋介
(静岡大 大学院総合科学技術研究科)
竹内和歌奈
(名古屋大 大学院工学研究科)
坂下満男
(名古屋大 大学院工学研究科)
黒澤昌志
(名古屋大 大学院工学研究科)
黒澤昌志
(名古屋大 未来材料システム研)
中塚理
(名古屋大 大学院工学研究科)
財満鎭明
(名古屋大 大学院工学研究科)
財満鎭明
(名古屋大 未来材料システム研)

資料名:
電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻: 116  号: 2(OME2016 1-17)  ページ: 23-26  発行年: 2016年04月01日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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