文献
J-GLOBAL ID:201602257323662302
整理番号:16A0653039
チップの反りの非破壊試験法-シンクロトロン放射X線の応用【Powered by NICT】
Non-destructive testing method for chip warpage -Applications of synchrotron radiation X-ray
著者 (4件):
Hsu Hsueh-Hsien
(Department of Chemical and Materials Engineering, National Central University, Taoyuan City, 320 Taiwan)
,
Chang-Meng Wang
(Shenmao Technology Inc., Taoyuan City, 328 Taiwan)
,
Lee Hsin-Yi
(National Synchrotron Radiation Research Center, HsinChu City, 300 Taiwan)
,
Wu Albert T.
(Department of Chemical and Materials Engineering, National Central University, Taoyuan City, 320 Taiwan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICEP
ページ:
15-18
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)