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文献
J-GLOBAL ID:201602258734666815   整理番号:16A0471825

集束イオンビーム法による単一カーボンナノコイルの精密測定

Precise measurement of single carbon nanocoils using focused ion beam technique
著者 (7件):
Nakamura Yasushi
(Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, Japan)
Suda Yoshiyuki
(Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, Japan)
Kunimoto Ryuji
(Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, Japan)
Iida Tamio
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, National Inst. of Technol., Gifu Coll., Motosu, Gifu 501-0495, Japan)
Takikawa Hirofumi
(Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, Japan)
Ue Hitoshi
(Fuji Res. Lab., Tokai Carbon Co., Ltd., Oyama, Shizuoka 410-1431, Japan)
Shima Hiroyuki
(Dep. of Environmental Sci.s, Univ. of Yamanashi, Kofu, Yamanashi 400-8510, Japan)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 108  号: 15  ページ: 153108-153108-4  発行年: 2016年04月11日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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